User's Manual

Table Of Contents
28
ข้อผิดพลาดของ HEC จำานวนรวมข้อผิดพลาดของการ
ตรวจสอบข้อผิดพลาดส่วนหัว (HEC)
ข้อผิดพลาดของ OCD จำานวนรวมข้อผิดพลาดของการ
วิเคราะห์นอกเซลล์
ข้อผิดพลาดของ LCD จำานวนรวมของการวิเคราะห์การสูญ
หายของเซลล์ทั้งหมด
เซลล์รวม จำานวนรวมของเซลล์ ATM
(รวมถึงเซลล์ไม่ได้ใช้งาน + เซลล์ข้อมูล)
เซลล์ข้อมูล จำานวนรวมของเซลล์ข้อมูล ATM
ข้อผิดพลาดของบิต จำานวนรวมข้อผิดพลาดเกี่ยวกับบิต
ES รวม จำานวนรวมของวินาทีที่ผิดพลาด
SES รวม จำานวนรวมของวินาทีที่ผิดพลาดอย่าง
ร้ายแรง
UAS รวม จำานวนรวมของวินาทีที่ไม่สามารถใช้
งานได้
ทดสอบ xDSL BER
คลิกที่ xDSL BER Test (ทดสอบ xDSL BER) บนหน้าจอสถิติ
xDSL เพื่อทดสอบอัตราข้อผิดพลาดของบิต (BER) หน้าต่างป๊
อบอัพขนาดเล็กจะเปิดหลังจากกดปุ่มตามที่แสดงไว้ด้านล่าง