User Manual
Table Of Contents
- Sisältö
- Tutustuminen — Aloita tästä!
- Luku 1 Perustoiminta
- Luku 2 Manuaaliset laskutoimitukset
- 1. Peruslaskutoimitukset
- 2. Erikoisfunktiot
- 3. Kulmatilan ja näyttömuodon määrittäminen
- 4. Funktiolaskutoimitukset
- 5. Numeeriset laskutoimitukset
- 6. Kompleksilukulaskutoimitukset
- 7. Kokonaislukujen binääri-, oktaali-, desimaali- ja heksadesimaalilaskutoimitukset
- 8. Matriisilaskutoimitukset
- 9. Vektorilaskutoimitukset
- 10. Yksikkömuunnoslaskutoimitukset
- Luku 3 Listatoiminto
- Luku 4 Yhtälölaskutoimitukset
- Luku 5 Kuvaajat
- 1. Kuvaajaesimerkkejä
- 2. Kuvaajanäytön näkymän määrittäminen
- 3. Kuvaajan piirtäminen
- 4. Kuvaajanäytön sisällön tallentaminen ja palauttaminen
- 5. Kahden kuvaajan piirtäminen samaan näyttöön
- 6. Kuvaajien piirtäminen manuaalisesti
- 7. Taulukoiden käyttäminen
- 8. Kuvaajan muokkaaminen
- 9. Kuvaajien dynaaminen piirtäminen
- 10. Rekursiokaavan kuvaajien piirtäminen
- 11. Kartioleikkausten piirtäminen
- 12. Pisteiden, viivojen ja tekstin piirtäminen kuvaajanäyttöön (Sketch)
- 13. Funktioanalyysi
- Luku 6 Tilastolliset kuvaajat ja laskutoimitukset
- 1. Ennen tilastollisten laskutoimitusten suorittamista
- 2. Yhden muuttujan tilastotietojen laskeminen ja niiden kuvaajat
- 3. Kahden muuttujan tilastotietojen laskeminen ja niiden kuvaajat (käyrän sovitus)
- 4. Tilastolaskutoimitusten suorittaminen
- 5. Testit
- 6. Luottamusväli
- 7. Jakauma
- 8. Testien syöte- ja tulostermit, luottamusväli ja jakauma
- 9. Tilastolliset kaavat
- Luku 7 Talouslaskutoimitukset
- Luku 8 Ohjelmointi
- Luku 9 Taulukkolaskenta
- Luku 10 eActivity
- Luku 11 Muistinhallinta
- Luku 12 Järjestelmänhallinta
- Luku 13 Tietoliikenne
- Luku 14 Geometria
- Luku 15 Picture Plot -toiminto
- Luku 16 3D-kuvaajatoiminto
- Luku 17 Python (vain fx-CG50, fx-CG50 AU)
- Luku 18 Jakauma (vain fx-CG50, fx-CG50 AU)
- Liite
- Koemoodit
- E-CON4 Application (English)
- 1. E-CON4 Mode Overview
- 2. Sampling Screen
- 3. Auto Sensor Detection (CLAB Only)
- 4. Selecting a Sensor
- 5. Configuring the Sampling Setup
- 6. Performing Auto Sensor Calibration and Zero Adjustment
- 7. Using a Custom Probe
- 8. Using Setup Memory
- 9. Starting a Sampling Operation
- 10. Using Sample Data Memory
- 11. Using the Graph Analysis Tools to Graph Data
- 12. Graph Analysis Tool Graph Screen Operations
- 13. Calling E-CON4 Functions from an eActivity
14-48
Huomautus
• Joitakin mittoja ei voi lukita. Voit tarkistaa objektin lukittavuuden kappaleen ”Objektin mittojen
tarkastelu” (sivu 14-41) taulukon sarakkeesta ”Lukittava”.
u Yksittäisen mitan lukituksen avaaminen
Voit avata haluamasi mitan lukituksen suorittamalla jonkin seuraavista toiminnoista.
• Jos mittausruudun oikealla puolella oleva kuvake on
, siirry kuvakkeen kohdalle ja paina
w.
• Siirry kuvakkeen
oikealla puolella olevan ylöspäin osoittavan nuolipainikkeen kohdalle ja
paina w.
Valitse avautuvasta valikosta [Unlock] ja paina w.
u Kaikkien objektien mittojen lukituksen avaaminen
Suorita toiminto: K(Option) – 4:Clr Constraint.
Toiminto avaa kaikkien mittojen lukituksen.
Huomautus
Toiminto avaa sekä käyttäjän lukitsemat että automaattisesti piirrettäessä lukitut mitat.
Toiminto avaa esimerkiksi seuraavat mittojen lukitukset.
• Piirretyn suorakulmion vastakkaiset sivut yhtä pitkinä pitävä lukitus (vastakkaisten sivujen
kongruenssin lukitus)
• Piirretyn tasakylkisen kolmion (ABC) kyljet AB ja BC yhtä pitkinä pitävä lukitus (kylkien AB ja
BC kongruenssin lukitus)
• Piirretyn suoran lukitus, joka varmistaa, että suora kulkee kahden pisteen A ja B kautta
(suoran ja pisteiden A ja B insidenssin lukitus)
• Janan ja keskinormaalin välinen suhde, joka muodostetaan, kun jana valitaan ja suoritetaan
toiminto: 4(Construct) – 1:Perp Bisector.
• Objektien (lukitut) samankaltaisuudet, kun objektit valitaan ja suoritetaan toiminto:
5(Transform) – 5:Dilation.