User Manual
Table Of Contents
- Sisältö
- Tutustuminen — Aloita tästä!
- Luku 1 Perustoiminta
- Luku 2 Manuaaliset laskutoimitukset
- 1. Peruslaskutoimitukset
- 2. Erikoisfunktiot
- 3. Kulmatilan ja näyttömuodon määrittäminen
- 4. Funktiolaskutoimitukset
- 5. Numeeriset laskutoimitukset
- 6. Kompleksilukulaskutoimitukset
- 7. Kokonaislukujen binääri-, oktaali-, desimaali- ja heksadesimaalilaskutoimitukset
- 8. Matriisilaskutoimitukset
- 9. Vektorilaskutoimitukset
- 10. Yksikkömuunnoslaskutoimitukset
- Luku 3 Listatoiminto
- Luku 4 Yhtälölaskutoimitukset
- Luku 5 Kuvaajat
- 1. Kuvaajaesimerkkejä
- 2. Kuvaajanäytön näkymän määrittäminen
- 3. Kuvaajan piirtäminen
- 4. Kuvaajanäytön sisällön tallentaminen ja palauttaminen
- 5. Kahden kuvaajan piirtäminen samaan näyttöön
- 6. Kuvaajien piirtäminen manuaalisesti
- 7. Taulukoiden käyttäminen
- 8. Kuvaajan muokkaaminen
- 9. Kuvaajien dynaaminen piirtäminen
- 10. Rekursiokaavan kuvaajien piirtäminen
- 11. Kartioleikkausten piirtäminen
- 12. Pisteiden, viivojen ja tekstin piirtäminen kuvaajanäyttöön (Sketch)
- 13. Funktioanalyysi
- Luku 6 Tilastolliset kuvaajat ja laskutoimitukset
- 1. Ennen tilastollisten laskutoimitusten suorittamista
- 2. Yhden muuttujan tilastotietojen laskeminen ja niiden kuvaajat
- 3. Kahden muuttujan tilastotietojen laskeminen ja niiden kuvaajat (käyrän sovitus)
- 4. Tilastolaskutoimitusten suorittaminen
- 5. Testit
- 6. Luottamusväli
- 7. Jakauma
- 8. Testien syöte- ja tulostermit, luottamusväli ja jakauma
- 9. Tilastolliset kaavat
- Luku 7 Talouslaskutoimitukset
- Luku 8 Ohjelmointi
- Luku 9 Taulukkolaskenta
- Luku 10 eActivity
- Luku 11 Muistinhallinta
- Luku 12 Järjestelmänhallinta
- Luku 13 Tietoliikenne
- Luku 14 Geometria
- Luku 15 Picture Plot -toiminto
- Luku 16 3D-kuvaajatoiminto
- Luku 17 Python (vain fx-CG50, fx-CG50 AU)
- Luku 18 Jakauma (vain fx-CG50, fx-CG50 AU)
- Liite
- Koemoodit
- E-CON4 Application (English)
- 1. E-CON4 Mode Overview
- 2. Sampling Screen
- 3. Auto Sensor Detection (CLAB Only)
- 4. Selecting a Sensor
- 5. Configuring the Sampling Setup
- 6. Performing Auto Sensor Calibration and Zero Adjustment
- 7. Using a Custom Probe
- 8. Using Setup Memory
- 9. Starting a Sampling Operation
- 10. Using Sample Data Memory
- 11. Using the Graph Analysis Tools to Graph Data
- 12. Graph Analysis Tool Graph Screen Operations
- 13. Calling E-CON4 Functions from an eActivity
β-2
u Koemoodiin siirtyminen
• Vain seuraavat asetukset tallennetaan ennen siirtymistä koemoodiin.
Input/Output (ei tallenneta Koemoodissa, NL), Frac Result, Angle, Complex Mode, Display,
Q1Q3 Type, Message Language, Menu Language, Battery Settings
1. Sammuta laskin painamalla !o(OFF).
2. Suorita toinen seuraavista toiminnoista riippuen siitä koemoodista, jota haluat käyttää.
Koemoodi, IB:
Pidä
c(E)- ja h(M) -näppäimiä pohjassa ja paina
o-näppäintä. ”Enter Examination Mode for IB?”
-valintaikkuna tulee näkyviin.
Koemoodi, UK (vain fx-CG50/fx-CG50 AU):
Pidä b(U)- ja ,(K) -näppäimiä pohjassa ja paina
o-näppäintä. ”Enter Examination Mode for UK?”
-valintaikkuna tulee näkyviin.
Koemoodi, NL:
Pidä i(N)- ja a(L) -näppäimiä pohjassa ja paina
o-näppäintä. ”Enter Examination Mode for NL?”
-valintaikkuna tulee näkyviin.
Koemoodi, Texas (US) (vain fx-CG50/fx-CG50 AU):
Pidä /(T)- ja +(X) -näppäimiä pohjassa ja paina
o-näppäintä. ”Enter Examination Mode for Texas
(US)?” -valintaikkuna tulee näkyviin.
3. Paina 1(Yes).
4. Seuraavaksi, kun olet lukenut ilmestyneen valintaikkunan viestin, paina 2.
• Jos suoritit tämän toiminnon vaiheessa 2
näppäintoiminnon siirtyäksesi mihin tahansa
koemoodiin Koemoodi, IB-moodia lukuun ottamatta,
ATTENTION-valintaikkuna tulee näkyviin. Jos haluat
jatkaa toimintoa ja siirtyä vaiheessa 2 määrittämääsi
koemoodiin, paina 1(Yes). Jos olet IB-kokeessa,
paina 6(No) palataksesi vaiheeseen 2 ja suorita sitten
näppäintoiminto siirtyäksesi Koemoodi, IB-moodiin.
5. Paina J.