Manual

Table Of Contents
Obsługa
7
7.16 Ustawianie emisyjności jako właściwość
powierzchni
Aby dokonywać dokładnych pomiarów temperatury, kamera musi wiedzieć jaka po-
wierzchnia jest przedmiotem pomiaru. Do wyboru następujące właściwości
powierzchni:
Matowe.
Półmatowe.
Półbłyszczące.
Więcej informacji o emisyjności patrz rozdział 12 Techniki pomiarów termowizyjnych,
page 35.
Wykonaj następujące czynności:
1. Naciśnij środkowy przycisk na panelu nawigacyjnym. Wyświetlony zostanie pasek
narzędzi.
2. Na pasku narzędzi wybierz Opcje
. Wyświetlone zostanie okno dialogowe.
3. W oknie dialogowym wybierz Parametry pomiarów. Wyświetlone zostanie okno
dialogowe.
4. W oknie dialogowym wybierz Emisyjność. Wyświetlone zostanie okno dialogowe.
5. W oknie dialogowym wybierz jedną z następujących opcji:
Matowe.
Półmatowe.
Półbłyszczące.
7.17 Ustawianie emisyjności materiału
własnego
Zamiast wybierania spośród trzech właściwości powierzchni (matt, semi-matt, semi-
glossy), możesz określić własny materiał z listy materiałów.
Więcej informacji o emisyjności patrz rozdział 12 Techniki pomiarów termowizyjnych,
page 35.
Wykonaj następujące czynności:
1. Naciśnij środkowy przycisk na panelu nawigacyjnym. Wyświetlony zostanie pasek
narzędzi.
2. Na pasku narzędzi wybierz Opcje
. Wyświetlone zostanie okno dialogowe.
3. W oknie dialogowym wybierz Parametry pomiarów. Wyświetlone zostanie okno
dialogowe.
4. W oknie dialogowym wybierz Emisyjność. Wyświetlone zostanie okno dialogowe.
5. W oknie dialogowym wybierz Niestandardowy materiał. Wyświetlona zostanie lista
materiałów o znanych wartościach emisyjności.
6. Wybierz materiał z listy.
7.18 Określanie własnej wartości emisyjności
W przypadku bardzo dokładnych pomiarów może zajść konieczność ustawienia emisyj-
ności zamiast wybierania właściwości powierzchni lub własnego materiału. Należy też
zrozumieć w jaki sposób emisyjność i odbijalność mają wpływ na pomiary, a nie tylko wy-
bierać właściwość powierzchni.
Emisyjność to właściwość wskazująca, ile promieniowania pochodzi od obiektu, w prze-
ciwieństwie do promieniowania odbijanego przez obiekt. Niższa wartość wskazuje, że
większa część jest odbijana, podczas gdy wysoka wartość wskazuje, że mniejsza część
jest odbijana.
#T559828; r. AQ/75718/75719; pl-PL
20