User manual

17
Temperatura shranjevanja -10 – 60°C (14 – 140°F)
Vlažnost pri delovanju ≤ 90%, 0 – 30°C (32 – 86°F)
≤ 75%, 30 – 40°C (86 – 104°F)
≤ 45%, 40 – 50°C (104 – 122°F)
Vlažnost pri shranjevanju 90% RH
Dimenzije (V x Š x G) 17,5 x 7,2 x 4,2 cm (6.9 x 2.9 x 1.7’’)
Teža naprave 323 g (11.4 oz.)
Test padca v teku je odobritev testa padca z višine 3 metrov
Certificirani standardi EN61326 (EMC), EN60825-1 Razred 2 (laser)
Odobritve agencij CE, FCC Razred B
Priloženi pripomočki MR01 zamenljivi temperaturni in RH senzor, MR02
standardna stična sonda, hitri vodnik za uporabo,
mednarodni USB polnilnik in USB kabel
Jezikovne možnosti Besedilo na zaslonu merilnika je lahko prikazano v
katerem koli od 14 jezikov
7.2 TEHNIČNI PODATKI TERMOVIZIJSKE KAMERE
Termovizijska kamera FLIR Lepton® modul, mikrobolometer FPA
Kalibracija slike Samodejna (z možnostjo ročnega zaklepa lestvice)
Ločljivost toplotne slike 80(Š) x 60(V) slikovnih točk (4800 slikovnih točk)
Spektralni odziv 8~14µm
Vidno polje 51° horizontalno x 38° vertikalno
Toplotna občutljivost < 150 mK
Mejna vrednost zaznave zaznavanje mokrega območje pri 10 m (32'): 49cm
2
(19.7
in
2
)
Stopnja posodobitve toplotne slike 9 Hz
Palete toplotne slike možnost izbire lestvice: “Iron, Rainbow, Ice, Gray“
Minimalna razdalja ostrenja 10 cm (4'')
Laserski kazalnik vida svetloba Razreda II, osredotočena na toplotno sliko;
1.0 mW (največja moč), valovna dolžina: 650 ± 20nm
7.3 TEHNIČNI PODATKI MERILNIKA VLAŽNOSTI
Meritve notranjega brezstičnega senzorja 0 do 100 (relativni odčitki)
Meritve zunanje stične sonde 7% – 30%* (±1.5% MC*)
30% – 100% (samo referenca)
Ločljivost meritve 0.1
Globina brezstične meritve največ 1,9 cm (0.75'')
Skupine stične vlage 9 skupin materialov
Odzivni čas: brezstični način: 100ms
stični način: 750ms
Opombe:
* Največje določeno območje je odvisno od točke nasičenosti vlaken pri specifičnih
vrstah. Nad točko nasičenosti vlaken lahko odčitek uporabite samo kot relativno
referenčno vrednost. Za več informacij o nasičenosti vlaken glejte standard ASTM
D7438. Specifikacija natančnosti temelji na analizi v delu J. Fernandez-Golfin et al.