User manual

116
Brugsanvisning
20
Skema 1. Måleusikkerhed (fortsat)
Funktion Område Måleenhed
Usikkerhed,
± ([% af måling] + [afvigelse])
Gennemgang 600 Ω 1 Ω
Bip slåer til < 20 Ω, fra > 250 Ω;
registrerer afbrydelse og kortslutning
af 500 μs varighed og derover.
Modstand
600,0 Ω
6,000 kΩ
60,00 kΩ
600,0 kΩ
6,000 MΩ
40,00 MΩ
0,1 Ω
0,001 kΩ
0,01 kΩ
0,1 kΩ
0,001 MΩ
0,01 MΩ
0,9 % + 2
0,9 % + 1
0,9 % + 1
0,9 % + 1
0,9 % + 1
5 % + 2
Diodeafprøvning 2,000 V 0,001 V 0,9 % + 2
Kapacitans
1000 nF
10,00 μF
100,0 μF
9999 μF
1 nF
0,01 μF
0,1 μF
1 μF
1,9 % + 2
1,9 % + 2
1,9 % + 2
100 μF – 1000 μF: 1,9 % + 2
> 1000 μF: 5 % + 20
Lo-Z-kapacitans 1 nF – 500 μF Typisk: 10 % + 2
Temperatur
(termoelement af type K)
-40 – 400
°C
-40 – 752
°F
0,1
°C
0,2
°F
1 % + 10
[2]
1 % + 18
[2]