User's Manual

80 Series V
ユーザーズ･マニュアル
22
ダイオード･テスト
W注意
本器または被試験装置を誤って損傷させないよ
う、ダイオード･テストを行なう前に、回路の電
源を切り離し、すべての高電圧コンデンサーを放
電させてください。
ダイオード･テストによって、ダイオード、トランジスター、
シリコン制御整流素子 (SCR)、その他の半導体装置を
チェックします。この機能では、電流を半導体の接合部を
通して流し、接合部の電圧降下を測定することにより、半
導体接合をテストします。良品のシリコン接合での電圧降
下は、0.5 V から 0.8 V の間となります。
ダイオード単体をテストするには、本器を図 7. に示すよ
うにセットします。どのような半導体部品でも、順方向バ
イアス読み取りには、赤のテスト･リードを部品の + 端子
に黒のテスト･リードを部品の - 端子にあてます。
良品のダイオードは、回路内であっても、0.5 V ～ 0.8 V の
順方向バイアスの読みを常に示すはずですが、逆方向バイ
アス値は、2 本のテスト･リード間に存在する他の経路の
抵抗によって、変動することがあります。
ダイオードが良好な場合 (< 0.85 V) は、短いビープ音が鳴
ります。読み取り値が ≤ 0.100 V である場合は、連続した
ビープ音がなります。この読み取り値は、短絡回路を示し
ます。ダイオードが開放している場合は、「OL」が表示
されます。