User's Manual
3000 FC
ユーザーズ・マニュアル
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ダイオード・テスト
警告
不慮の感電事故、火災、怪我を防止するために、
抵抗、導通、静電容量、ダイオードを測定する前
に、電源を切断し、すべての高電圧コンデンサー
を放電してください。
ダイオード、トランジスター、シリコン制御整流器
(SCR)、およびその他の半導体装置に対してダイオー
ド・テストを行います。機能は半導体接合部を通して電
流を送り、接合部にわたる電圧降下を測定します。良品
のシリコン接合での電圧降下は、0.5 V から 0.8 V の間と
なります。
回路外のダイオードでダイオード・テストを行うには、
図 8 に示すように本器を設定します。半導体素子の順方
向バイアス測定の場合は、赤いテスト・リードを素子の
正の端子につなぎ、黒いテスト・リードを素子の負の端
子につなぎます。
回路内では、良品のダイオードの順方向バイアス測定値
は 0.5 V ~ 0.8 V になります。逆バイアス測定値には、
プローブ間の他の経路の抵抗が含まれます。
ダイオードが良好な場合 (< 0.85 V) は、短いビープ音が
鳴ります。測定値が 0.100 V 以下、あるいは短絡回路の
場合は、ビープ音が連続して鳴ります。ダイオードがオ
ープンの場合、「OL」が表示されます。