Instruction Manual

4.8. Diodentestfunktion
Die Diodentestfunktion ermöglicht die Bestimmung der
Verwendbarkeit von Dioden und anderen Halbleiter-Elementen in
definierten Schaltungen, sowie die Bestimmung der Durchgängigkeit
(Kurzschluss) und Spannungsabfalls in Durchlassrichtung.
1. Schwarze Prüfleitung an die COM-Buchse anschließen. Die
Polarität der Messspitze ist positiv (+).
2. Funktionswahlschalter in Stellung  drehen und mit der Taste
„FUNC“ die „Dioden“ Funktion wählen.
3. Prüfspitzen über der zu messenden Diode legen und Messwert
in der LCD-Anzeige ablesen. Bei einwandfreien Dioden beträgt
der Spannungsabfall in Durchlassrichtung ca. 0,3 V für
Germaniumdioden bzw. ca. 0,7 V für Siliziumdioden.
Hinweise:
* Bei falsch gepolten Prüfleitungen (Messspitze an Kathodenseite,
schwarze Prüfleitung an Anodenseite) entspricht die
Messwertanzeige dem Spannungsabfall in Sperrrichtung der
Diode.
* Bei Anzeige des Überlaufsymbols „OL“ ist die Diode entweder
offen oder der Spannungsabfall beträgt mehr als 2 V.
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