PID Test

EIN UNTERNEHMEN DES Q VERBAND DER ELEKTROTECHNIK ELEKTRONIK INFORMATIONSTECHNIK e.V.
Geschäftsführe
r
Dipl.-Ing. Michael Jungnitsch (Vors.)
EUR-/Dipl.-Ing. Wolfgang Niedziella
Merianstrasse 28
63069 Offenbach
E-mail: [e-mail]
http://www.vde.com
Gerichtsstand:
Frankfurt am Main
HRB 43618
USt.-IdNr.: DE261922990
Steuer-Nr.: 04425092566
Tel.: [phone]
Fax: [phone]
Bankkonto
Commerzbank AG Frankfurt
BLZ 500 800 00
Kto.Nr.: 198 027 000
S.W.I.F.T.-Code:
DRES DE FF XXX
IBAN:
DE91500800000198027000
Benannte Stelle nach dem Produktsicherheitsgesetz (ProdSG)
und der EMV-Richtlinie 2004/108/EG. Akkreditiert nach
DIN EN ISO/IEC 17021, 17025 und 17065.
Anerkannte Prüf- und Zertifizierungsstelle für internationale
(IECEE und IECQ) und europäische Zertifizierungssysteme
(CCA, HAR, ENEC).
TS IEC 62804-1:2015-08
Photovoltaic (PV) modules - Test methods for detection of
potential-induced degradation – Part 1: Crystalline silicon
Reference No.:
5018237-3972-0001
Applicant:
Sharp Electronics (Europe) LTD
4 Furzeground Way, UXBRIDGE (MIDDLESEX),
United Kingdom
Product:
Crystalline silicon Photovoltaic (PV)-Modules
Type:
NU-RCXXX
NU-RDXXX
ND-RCXXX
XXX in the type number replaces the real output of the modules at STC,
rounded off in steps of five.
195 – 310 W
Manufacturer:
Sharp Electronics (Europe) LTD
Standard:
TS IEC 62804-1:2015-08
Test conditions:
Testing time: 96 h
Chamber temperature: 60°C
Relative Humidity: 85 %
Potential to ground: - 1000 V
Pass criteria:
Power degradation: < 5%
Dry Insulation: > 40 Mm²
Wet insulation: > 40 Mm²