Datasheet

Qualification Test Report 501-5976
Rev.A 3 of 12
3. 試 験内 容
電 気 的 性 能 Electrical Requirements
項番
No.
3-1
試験項目
Test Items
総合抵抗(ローレベル)
Termination Resistance (Low Level)
規格値
Requirements
10 mΩ 以下 (初期)
20 mΩ 以下 (終期)
10 mΩ Max. (Initial)
20 mΩ Max. (Final)
試験方法
Procedures
ハウジングに組み込まれ嵌合したコンタク
トを開路電圧 20mV 以下､閉路電流 10mA 以
下の条件で測定する｡
但し､電線の抵抗分は差し引く｡
AMP 規格 109-5311-1
Subject mated contacts assembled in housing
to 20mV Max. open circuit at 10mA. Take the
resistance of the wire only away from
measurement
AMP Spec. 109-5311-1
項番
No.
3-2
試験項目
Test Items
絶縁抵抗
Insulation Resistance
規格値
Requirements
1000 MΩ 以上 (初期)
100 MΩ 以上 (終期)
1000 MΩ Min. (Initial)
100 MΩ Min. (Final)
試験方法
Procedures
500 V DC 印加｡
コネクタ嵌合した状態の隣接コンタクト間
で測定｡
MIL-STD-202, 試験法 302 条件 B
AMP 規格 109-5302
Impressed voltage 500 V DC.
Test between adjacent circuits contact of mated
connectors.
AMP Spec. 109-5302
MIL-STD-202, Method 302
Condition B
項番
No.
3-3
試験項目
Test Items
耐電圧
Dielectric withstanding Voltage
規格値
Requirements
沿面放電､フラッシュオーバー等がないこ
と｡(初期及び終期)
リーク電流 0.5 mA 以下
No creeping discharge or flashover shall occur.
Current leakage : 0.5 mA Max
試験方法
Procedures
コネクタ嵌合した状態で隣接コンタクト間で測
定｡
1 分間印加測定｡
1.5KV AC
1.5KV AC for 1 minute.
Test between adjacent circuits contact of mated
connectors.
Fig. 1 (続く) (To be Continued)