Datasheet

Product Specification 108-78519
Rev. A 11 of 13
4. 品質保証条件
4.1 試験条件
特に指定のない場合､下記に示す環境条件のもとで性能試
験を行うものとする｡
4. Quality Assurance Provisions :
4.1 Test Conditions :
Unless otherwise specified, all the test shall be performed
in any combination of the following test conditions.
温 度 15～35℃ Temperature : 15～35℃
相対湿度 45～75 % Relative Humidity : 45～75 %
気 圧 86.6～106.6 Kpa Atmospheric Pressure : 86.6～106.6 Kpa
Fig. 4
4.2 試験
4.2.1 試料
性能試験に用いる試料は､該当製品図面上の規定事項に
合致したものであること｡また圧着コンタクトは『ダイナミックコ
ネクタ D1000 シリーズ・コンタクトの圧着条件 114-5377』に
基づいて Fig. 5 に示す電線を圧着した正規の試料である
こと｡
4.2 Tests :
4.2.1 Test Specimens :
The test specimens to be employed for the tests shall be
conforming to the requirements specified in the applicable
product drawings. The crimped contacts shall be prepared
in accordance with the requirements of applicable
application Specification, 114-5377, Crimping of DYNAMIC
CONNECTOR D1000 Series. on the wires specified in Fig.
5 of this specification.
4.2.2 使用電線
性能試験して用いる電線は､Fig. 5 に示す電線にて行うも
のとする｡
4.2.2 Applicable Wires :
The wires to be used for crimping the samples for
performance testing shall be conforming to the
requirements specified in Fig. 5.
計算断面積(mm
2
)
Calculated
Cross-sectional
Area(mm
2
)
AWG
素線径(mm)
Diameter of a
Conductor (mm)
素線数
Number of
Conductors
絶縁被覆外径(mm)
Insulation Outer
Diameter (mm)
0.05 30 0.102 7 0.8
0.08 28 0.12 7 1.08
0.14 26 0.16 7 1.3
0.22 24 0.16 11 1.4
0.34 22 0.16 17 1.6
0.50 20 0.16 26 1.8
0.85 18 0.16 43 2.1
Fig. 5