User manual

B Meßtoleranzen

Angabe der Meßtoleranzen Cx in ± (% der Ablesung + Anzahl der

Digits=Digitalstellenfehler)

Betriebsart Meßbereich Genauigkeit Auflösung Kalibrierung (SET – Modus)

Kapazität 20 nF ±(1,0%+5dgts) 1 pF offen (open)

bei 120 Hz 200 nF ±(0,7%+5dgts) 10 pF offen

Testfrequenz 2 uF ±(0,7%+3dgts) 100 pF ---

20 uF ±(0,7%+3dgts) 1 nF ---

200 uF ±(0,7%+3dgts) 10 nF ---

2000 uF ±(1,0%+5dgts) 0,1 uF Kurzschluß (short)

10 mF ±(5,0%+5dgts) 1 uF Kurzschluß

Betriebsart Meßbereich Genauigkeit Auflösung Kalibrierung

Kapazität 2000 pF ±(1,0%+5dgts) 0,1 pF offen

bei 1 kHz 20 nF ±(0,7%+5dgts) 1 pF offen

Testfrequenz 200 nF ±(0,7%+5dgts) 10 pF ---

2000 nF ±(0,7%+3dgts) 100 pF ---

20 uF ±(0,7%+3dgts) 1 nF ---

200 uF ±(1,0%+3dgts) 10 nF Kurzschluß

2000 uF ±(5,0%+5dgts) 1 uF Kurzschluß

pF = pico-Farad = 10 exp. -12; nF = nano-Farad = 10 exp. -9; uF = micro-Farad = 10 exp. -6

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Induktivität 20 mH ±(2,0%+5dgts) 1 uH Kurzschluß (short)

bei 120 Hz 200 mH ±(1,0%+5dgts) 10 uH Kurzschluß

Testfrequenz 2000 mH ±(0,7%+5dgts) 100 uH ---

20 H (< 0,5H) ±(0,7%+5dgts) 1 mH ---

200 H (> 0,5H) ±(0,7%+5dgts) 10 mH ---

2000 H ±(1,0%+5dgts) 100 mH offen (open)

10000 H nicht spezifiziert 1 H ---

Induktivität 2000 uH ±(2,0%+5dgts) 0,1 uH Kurzschluß (short)

bei 1 kHz 20 mH ±(1,2%+5dgts) 1 uH Kurzschluß

Testfrequenz 200 mH ±(0,7%+5dgts) 10 uH ---

2000 mH ±(0,7%+5dgts) 100 uH ---

20 H ±(0,7%+5dgts) 1 mH ---

200 H ±(1,0%+5dgts) 10 mH offen (open)

2000 H nicht spezifiziert 100 mH ---